SEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистота



Сохраните в закладки:

Цена:2 277,00RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Development Expert Store

Advanced Materials Development Expert Store

Магазина Advanced Materials Development Expert Store работает с 13.05.2018. его рейтинг составлет 88.89 баллов из 100. В избранное добавили 496 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.3 в продаже представленно 1394 наименований товаров, успешно доставлено 61 заказов. 9 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

SEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистота

История изменения цены

*Текущая стоимость 2 277,00 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Feb-19-2026 2892.62 руб. 2950.44 руб. 2921 руб.
Jan-19-2026 2345.95 руб. 2392.99 руб. 2368.5 руб.
Dec-19-2025 2846.4 руб. 2903.13 руб. 2874.5 руб.
Nov-19-2025 2823.38 руб. 2879.46 руб. 2851 руб.
Oct-19-2025 2254.2 руб. 2299.9 руб. 2276.5 руб.
Sep-19-2025 2778.88 руб. 2834.81 руб. 2806 руб.
Aug-19-2025 2755.33 руб. 2810.13 руб. 2782.5 руб.
Jul-19-2025 2732.16 руб. 2787.71 руб. 2759.5 руб.

Описание товара

SEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистотаSEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистотаSEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистотаSEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистотаSEM односторонняя полировка экспериментальные исследования и высокая чистота


Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)   Характеристики: высокая чистота кремния si одинарная кристаллическая подложка, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально   Режим роста: прямая тяга   Ориентация кристаллов: [111]/[100]/[110]   Плоскость: <1 микрон (измеряемая общая страничка)   Использование: 1.PVD/ CVD покрытие в качестве подложки   2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ испытательной подложки, AFM   (Атомный силовой микроскоп)   3. Перевозчик образцов синхротронного излучения   4. Молекулярный луч эпитаксиального роста подложки   5. Процесс литографии полупроводников и т. Д.   Примечание: другие размеры могут быть настроены и могут быть вызваны.

 

TB2AK6lksLJ8KJjy0FnXXcFDpXa_!!2182942071TB2Q3zlksLJ8KJjy0FnXXcFDpXa_!!2182942071TB2SduRktnJ8KJjSszdXXaxuFXa_!!2182942071TB25Zukc7fb_uJkHFrdXXX2IVXa_!!2182942071TB29rakksnI8KJjSspeXXcwIpXa_!!2182942071


Смотрите так же другие товары: