Новое поступление
Магазина Advanced Materials Research Specialist Store работает с 18.11.2015. его рейтинг составлет 85.71 баллов из 100. В избранное добавили 360 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.7 в продаже представленно 2266 наименований товаров, успешно доставлено 86 заказов. 7 покупателей оставили отзывы о продавце.
Характеристики
*Текущая стоимость 1 813,56 - 9 067,81 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"
| Месяц | Минимальная цена | Макс. стоимость | Цена |
|---|---|---|---|
| Feb-23-2026 | 2303.82 руб. | 2349.28 руб. | 2326 руб. |
| Jan-23-2026 | 1867.34 руб. | 1904.39 руб. | 1885.5 руб. |
| Dec-23-2025 | 2266.23 руб. | 2311.50 руб. | 2288.5 руб. |
| Nov-23-2025 | 2248.84 руб. | 2293.66 руб. | 2270.5 руб. |
| Oct-23-2025 | 1795.53 руб. | 1831.65 руб. | 1813 руб. |
| Sep-23-2025 | 2212.29 руб. | 2256.1 руб. | 2234 руб. |
| Aug-23-2025 | 2194.63 руб. | 2238.52 руб. | 2216 руб. |
| Jul-23-2025 | 2176.0 руб. | 2220.40 руб. | 2198 руб. |
Описание товара





Монокристаллическая Кремниевая пластина (Двусторонняя полировка)Особенности:Высокочистый монокристаллический субстрат кремния si, опциональный тип N/P, сопротивление 0,0001-100 Ом, опциональноРежим роста:Прямая тягаОриентация кристалла:[111]/[100]/[110]Плоскостность:<1 микрон (измеренная общая warpage)Использование:1.PVD/CVD покрытие в качестве подложки2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный тестовый субстрат для спектрального анализа, AFM (микроскоп атомной силы)3. Носитель для испытания образцов синхротронного излучения4. Эпитаксиальный рост субстрата молекулярного луча5. Полупроводниковая литография и т. д.Классификация:D12.7 × 2 мм; D15 × 2 мм; D20 × 2 мм; D25 × 2 мм; D25.4 × 2 мм; D30 × 2 мм; D50 × 2 мм; D50.8 × 2 мм.Примечание:Другие размеры могут быть изменены.






Смотрите так же другие товары: