Двухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистоты



Сохраните в закладки:

Цена:1 813,56 - 9 067,81RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Research Specialist Store

Advanced Materials Research Specialist Store

Магазина Advanced Materials Research Specialist Store работает с 18.11.2015. его рейтинг составлет 85.71 баллов из 100. В избранное добавили 360 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.7 в продаже представленно 2266 наименований товаров, успешно доставлено 86 заказов. 7 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Двухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистоты

История изменения цены

*Текущая стоимость 1 813,56 - 9 067,81 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Feb-23-2026 2303.82 руб. 2349.28 руб. 2326 руб.
Jan-23-2026 1867.34 руб. 1904.39 руб. 1885.5 руб.
Dec-23-2025 2266.23 руб. 2311.50 руб. 2288.5 руб.
Nov-23-2025 2248.84 руб. 2293.66 руб. 2270.5 руб.
Oct-23-2025 1795.53 руб. 1831.65 руб. 1813 руб.
Sep-23-2025 2212.29 руб. 2256.1 руб. 2234 руб.
Aug-23-2025 2194.63 руб. 2238.52 руб. 2216 руб.
Jul-23-2025 2176.0 руб. 2220.40 руб. 2198 руб.

Описание товара

Двухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистотыДвухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистотыДвухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистотыДвухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистотыДвухсторонняя полировка SEM экспериментальные исследования высокой чистоты


Монокристаллическая Кремниевая пластина (Двусторонняя полировка)Особенности:Высокочистый монокристаллический субстрат кремния si, опциональный тип N/P, сопротивление 0,0001-100 Ом, опциональноРежим роста:Прямая тягаОриентация кристалла:[111]/[100]/[110]Плоскостность:<1 микрон (измеренная общая warpage)Использование:1.PVD/CVD покрытие в качестве подложки2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный тестовый субстрат для спектрального анализа, AFM (микроскоп атомной силы)3. Носитель для испытания образцов синхротронного излучения4. Эпитаксиальный рост субстрата молекулярного луча5. Полупроводниковая литография и т. д.Классификация:D12.7 × 2 мм; D15 × 2 мм; D20 × 2 мм; D25 × 2 мм; D25.4 × 2 мм; D30 × 2 мм; D50 × 2 мм; D50.8 × 2 мм.Примечание:Другие размеры могут быть изменены.

3 DS.jpg0  DS.jpg1  DS.jpg2  DS.jpg04  DS.jpg05  DS.jpg


Смотрите так же другие товары: