Тип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистота



Сохраните в закладки:

Цена:1 176,24RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Development Expert Store

Advanced Materials Development Expert Store

Магазина Advanced Materials Development Expert Store работает с 13.05.2018. его рейтинг составлет 88.89 баллов из 100. В избранное добавили 496 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.3 в продаже представленно 1394 наименований товаров, успешно доставлено 61 заказов. 9 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Тип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистота

История изменения цены

*Текущая стоимость 1 176,24 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Mar-19-2026 1399.16 руб. 1469.66 руб. 1434 руб.
Feb-19-2026 1388.85 руб. 1457.58 руб. 1422.5 руб.
Jan-19-2026 1164.66 руб. 1222.54 руб. 1193 руб.
Dec-19-2025 1364.47 руб. 1432.86 руб. 1398 руб.
Nov-19-2025 1188.41 руб. 1247.19 руб. 1217.5 руб.
Oct-19-2025 1341.24 руб. 1408.2 руб. 1374.5 руб.
Sep-19-2025 1329.34 руб. 1395.84 руб. 1362 руб.
Aug-19-2025 1317.74 руб. 1383.12 руб. 1350 руб.
Jul-19-2025 1305.47 руб. 1370.40 руб. 1337.5 руб.

Описание товара

Тип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистотаТип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистотаТип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистотаТип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистотаТип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистотаТип полировки кремния SEM экспериментальное исследование высокая чистота


Технические характеристики: Одинарный кристалл, двухсторонняя полировка, 2,3,4 дюйма Материал: Высокая чистота кремния Si одиночный Кристалл подложки. N/P опционально. Область применения: 1.PVD/CVD покрытие подложки 2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные подложки 3. Экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения 4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания 5. Процесс литографии полупроводников и так далее


Смотрите так же другие товары: